Содержание
- Введение
- 1. Параметры радиационного воздействия на электронную аппаратуру
- 1.1. Ионизирующее излучение космического пространства и его воздействие на электронику
- 1.2. Поглощённая доза и флюенс частиц как параметры радиационного воздействия
- 2. Физические механизмы радиационного повреждения электронных материалов
- 2.1. Ионизация и образование радиационных дефектов в полупроводниках
- 2.2. Дозовые эффекты в структуре Si/SiO2 и изменение характеристик материалов
- 3. Радиационные эффекты в электронных компонентах и системах
- 3.1. Накопительная деградация параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем
- 3.2. Одиночные радиационные эффекты и сбои бортовой электроники
- 4. Моделирование радиационной стойкости и инженерная защита электроники
- 4.1. Моделирование радиационного воздействия на компоненты и электронные схемы
- 4.2. Радиационно-стойкие компоненты и инженерные решения для электронной аппаратуры
- Заключение
- Список литературы
Введение
Надёжность электронной аппаратуры зависит не только от свойств её схем и качества изготовления: при работе в радиационной среде характеристики полупроводниковых материалов и компонентов могут изменяться под действием ионизирующего излучения. Для космической электроники эта проблема связана с условиями эксплуатации аппаратуры за пределами земной атмосферы. Радиационные воздействия способны вызывать как постепенные изменения параметров, так и эффекты, связанные с прохождением отдельных частиц. Поэтому оценка стойкости должна учитывать не только тип излучения, но и особенности конкретных приборных структур.
Список литературы
- Таперо, К. Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения / К. Таперо, В. Улимов, А. Членов. — [Б. м.] : [б. и.], 2014. — 310 с. — ISBN 9785457534711.
- Развитие базовой технологии прогнозирования, оценки и контроля радиационной стойкости изделий микроэлектроники / А. Ю. Никифоров, П. К. Скоробогатов, М. Н. Стриханов [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. — 2012. — № 5 (97). — URL: https://cyberleninka.ru/article/n/razvitie-bazovoy-tehnologii-prognozirovaniya-otsenki-i-kontrolya-radiatsionnoy-stoykosti-izdeliy-mikroelektroniki-1.
- Моделирование эффектов воздействия отдельных заряженных частиц космического пространства на изделия микроэлектроники и твердотельной СВЧ-электроники с использованием пикосекундного лазера / А. Н. Егоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков [и др.] // Известия высших учебных заведений. Электроника. — 2012. — № 5 (97). — URL: https://cyberleninka.ru/article/n/modelirovanie-effektov-vozdeystviya-otdelnyh-zaryazhennyh-chastits-kosmicheskogo-prostranstva-na-izdeliya-mikroelektroniki-i-1.
- Калашников, О. А. Методика сертификации электронной компонентной базы бортовой космической аппаратуры по стойкости к дозовому воздействию / О. А. Калашников, А. Ю. Никифоров // Спецтехника и связь. — 2011. — № 4-5. — URL: https://cyberleninka.ru/article/n/metodika-sertifikatsii-elektronnoy-komponentnoy-bazy-bortovoy-kosmicheskoy-apparatury-po-stoykosti-k-dozovomu-vozdeystviyu.
- Хананова, А. В. Моделирование работы электронных схем при радиационном воздействии / А. В. Хананова, А. С. Аверяскин // Вестник Нижегородского университета им. Н. И. Лобачевского. — 2013. — № 2-1. — URL: https://cyberleninka.ru/article/n/modelirovanie-raboty-elektronnyh-shem-pri-radiatsionnom-vozdeystvii.
…и ещё 6 источников в полной версии работы
